云紋干涉法：基本原理：通過在物體表面制作云紋圖案，利用光的干涉原理記錄物體變形過程中云紋圖案的變化，通過分析云紋圖案的變化來推斷物體的應變狀態(tài)。優(yōu)點：具有直觀、簡便的優(yōu)點，適用于大型結構或復雜形狀的物體應變測量。缺點：云紋制作過程可能較為繁瑣，且對測量精度有一定影響。數字圖像處理法：基本原理：通過拍攝物體表面的圖像，利用數字圖像處理技術提取圖像中的特征信息（如邊緣、紋理等），通過比較不同時刻的圖像特征變化來推斷物體的應變狀態(tài)。優(yōu)點：具有靈活性高、適用范圍廣的優(yōu)點，可以適用于各種復雜環(huán)境和條件下的應變測量。缺點：受圖像質量影響較大，如光照條件、相機分辨率等都會影響測量精度。這些光學非...

光學非接觸應變測量技術有數字散斑干涉法：基本原理：利用散斑干涉裝置，通過對散斑圖案的分析來獲得應變信息。優(yōu)點：可以實現高精度的應變測量，對材料表面狀態(tài)的要求相對較低。缺點：對光路穩(wěn)定性和環(huán)境光干擾要求較高。激光測振法：基本原理：利用激光測振儀器測量被測物體表面的振動頻率和振幅，通過分析變化來計算應變。優(yōu)點：非常適用于動態(tài)應變的測量，可以實現高頻率的應變監(jiān)測。缺點：受到材料表面的反射性和干擾因素的影響。每種光學非接觸應變測量技術都有其獨特的優(yōu)點和局限性，選擇合適的技術需要根據具體的應用需求和被測對象的特點來進行綜合考量。 根據具體需求，可以選擇合適的光學非接觸應變測量方法進行應變測量...

光學非接觸應變測量是一種利用光學原理和傳感器技術，對物體表面的應變進行非接觸式測量的方法。以下是對光學非接觸應變測量的詳細解析：一、基本原理光學非接觸應變測量的原理主要基于光的干涉現象。當光線通過物體表面時，會發(fā)生干涉現象，即光線的相位會發(fā)生變化。而物體表面的應變會導致光線的相位發(fā)生變化，通過測量這種相位變化，可以得到物體表面的應變信息。常用的測量方法包括全息干涉術、激光散斑術和數字圖像相關術等，這些方法都基于光的干涉原理，通過對光的干涉圖案進行分析和處理，得到物體表面的應變分布。 通過光柵或激光干涉儀，光學非接觸應變測量能精確捕捉物體的應變。安徽VIC-3D非接觸式應變系統(tǒng) ...

光學非接觸應變測量系統(tǒng)通常具有較高的測量精度，能夠準確測量微小的應變值。這種系統(tǒng)通常使用光學傳感器（如光柵、激光干涉儀等）來實現對物體表面形變的測量，從而計算出應變值。光學非接觸應變測量系統(tǒng)的測量精度受多個因素影響，包括傳感器的分辨率、系統(tǒng)的穩(wěn)定性、環(huán)境條件等。通常情況下，這些系統(tǒng)可以實現較高的應變測量精度，可以達到亞微應變級別甚至更高的精度。對于微小的應變值，光學非接觸應變測量系統(tǒng)通常能夠提供比較準確的測量結果。通過合理的系統(tǒng)設計和參數設置，以及對被測對象表面的高分辨率掃描，這種系統(tǒng)可以有效地捕獲并測量微小的應變變化，包括局部應變和整體應變。需要注意的是，為了確保測量結果的準確性...

云紋干涉法：基本原理：通過在物體表面制作云紋圖案，利用光的干涉原理記錄物體變形過程中云紋圖案的變化，通過分析云紋圖案的變化來推斷物體的應變狀態(tài)。優(yōu)點：具有直觀、簡便的優(yōu)點，適用于大型結構或復雜形狀的物體應變測量。缺點：云紋制作過程可能較為繁瑣，且對測量精度有一定影響。數字圖像處理法：基本原理：通過拍攝物體表面的圖像，利用數字圖像處理技術提取圖像中的特征信息（如邊緣、紋理等），通過比較不同時刻的圖像特征變化來推斷物體的應變狀態(tài)。優(yōu)點：具有靈活性高、適用范圍廣的優(yōu)點，可以適用于各種復雜環(huán)境和條件下的應變測量。缺點：受圖像質量影響較大，如光照條件、相機分辨率等都會影響測量精度。這些光學非...

光學非接觸應變測量的原理主要基于光學原理，利用光學測量系統(tǒng)來測量物體的應變情況。具體來說，這種測量方式通過光線照射在被測物體上，并測量反射光線的位移來計算應變情況。在實際應用中，光學非接觸應變測量系統(tǒng)結合了激光或數碼相機與記錄系統(tǒng)和圖像測量技術。通過捕捉物體表面的圖像，并利用圖像處理技術，可以精確計算物體在測試過程中的多軸位移、應變和應變率。這種測量方法中最常見的技術包括激光器、光學線掃描儀和數字圖像相關（DIC）軟件。例如，激光器可以發(fā)射激光束照射在被測物體上，然后通過測量反射光的位移來計算應變。而DIC軟件則可以通過分析物體表面的圖像變化，計算出物體的位移和應變。 光學應變測量...

與傳統(tǒng)的應變測量裝置（如應變計和夾式引伸計）相比，光學非接觸應變測量具有許多優(yōu)勢。首先，它無需與物體直接接觸，因此可以避免由于接觸產生的附加應力和誤差。其次，它可以測量整個物體表面的應變分布，而不只只是局部點的應變。此外，由于采用了圖像處理技術，該方法可以實現高精度的測量，并且適用于各種材料和形狀的物體。總的來說，光學非接觸應變測量原理是通過光學測量系統(tǒng)捕捉物體表面的圖像變化，并利用圖像處理技術來計算物體的應變情況。這種方法具有高精度、全場測量和無需接觸等優(yōu)點，在材料力學、結構工程等領域具有廣泛的應用前景。 光學非接觸應變測量是一種新興的、無損傷的測量方法，具有普遍的應用前景。廣東...

光學非接觸應變測量技術在復雜材料和結構的應變測量中面臨的挑戰(zhàn)包括：材料特性的復雜性：多層復合材料和非均勻材料由于其不均勻和各向異性的特點，使得準確捕捉應變分布變得困難。長期測量的穩(wěn)定性問題：對于需要長期監(jiān)測應變的環(huán)境，如何保持測量設備的穩(wěn)定性和準確性是一大挑戰(zhàn)。三維全場測量的需求：復雜結構和材料往往需要三維全場的應變測量來***理解其力學行為，而不**是簡單的一維或二維測量。為了克服這些挑戰(zhàn)，提高測量的準確性和可靠性，可以采取以下措施：采用先進的數字圖像相關技術（DIC）：通過追蹤物體表面的散斑圖像，可以實現變形過程中物體表面的三維全場應變測量。 光學非接觸應變測量技術對于遠程監(jiān)測...

相位差測量：在光學非接觸應變測量中，通常采用相位差測量的方法來獲取應變信息。通過比較光柵在不同應變狀態(tài)下的干涉圖案，可以計算出相位差的變化，進而推導出應變值。數據處理：采集到的干涉圖像會經過數字圖像處理和信號處理的步驟，以提取出干涉圖案中的相位信息。通過分析相位信息，可以計算出材料表面的位移、形變等信息，從而得到應變值。總的來說，光學非接觸應變測量技術通過光學干涉原理和應變光柵的工作原理，實現對材料應變狀態(tài)的測量。這種技術具有高精度、高靈敏度、無接觸等優(yōu)點，適用于對材料表面進行微小變形和應變狀態(tài)的測量和分析。 光學非接觸應變測量以高靈敏度著稱，通過微小位移計算應變量，實現對微小應變...

使用多波長或多角度測量技術：利用多波長或多角度的光學測量技術，可以獲取更多關于材料表面和結構的信息，從而更準確地測量應變。這種技術可以揭示材料內部的應變分布和層間應變差異。結合其他測量技術：將光學非接觸應變測量技術與其他測量技術（如機械傳感器、電子顯微鏡等）相結合，可以相互補充，提高測量的準確性和可靠性。例如，可以使用機械傳感器來校準光學測量系統(tǒng)，或使用電子顯微鏡來觀察材料微觀結構的變化。進行環(huán)境控制：在測量過程中控制環(huán)境因素，如保持恒定的溫度、濕度和光照條件，以減少其對測量結果的影響。此外，可以使用溫度補償算法來糾正溫度引起的測量誤差。發(fā)展**測量技術：針對特定類型的復雜材料和結...

光學非接觸應變測量是一種先進的技術，用于測量材料或結構體表面的應變情況，而無需直接接觸樣品。這種技術通常基于光學原理和影像處理技術，能夠提供高精度和非破壞性的應變測量。工作原理和技術：光柵投影測量：這種方法利用投影在表面上的光柵，通過測量光柵在不同應變下的形變來計算應變值。這種方法通常使用專門的投影系統(tǒng)和相機進行測量，精度可以達到亞微米級別。數字圖像相關法：這種方法使用數字圖像處理技術，通過分析連續(xù)圖像的位移或形變來計算表面的應變。它可以在不同條件下進行測量，并且對材料表面的反射性質不敏感。全場激光干涉法：全場激光干涉法通過測量光干涉條紋的形變來確定表面的應變。這種方法適用于需要高...

應用領域光學非接觸應變測量在材料科學、工程領域以及其他許多應用中具有廣泛的應用前景。以下是一些主要的應用領域：材料性能測試：用于測試各種材料的力學性能，如拉伸、壓縮、彎曲等過程中的應變變化。工程結構監(jiān)測：在橋梁、建筑、飛機等工程結構的監(jiān)測中，用于實時檢測結構的應變狀態(tài)，評估結構的安全性和穩(wěn)定性。生物醫(yī)學：在生物醫(yī)學領域，用于測量生物組織的應變變化，如血管、心臟等的應變狀態(tài)。高溫環(huán)境測量：在高溫環(huán)境下，傳統(tǒng)的接觸式應變測量方法往往無法滿足需求，而光學非接觸應變測量可以克服這一難題，實現高溫環(huán)境下的應變測量。 光學非接觸應變測量克服了傳統(tǒng)方法的限制，為復雜結構和微小變形的測量提供了新...

光學非接觸應變測量系統(tǒng)的技術原理主要基于雙目立體視覺技術和數字圖像相關技術。系統(tǒng)通過左右兩個相機拍攝的圖像對，利用相關匹配算法計算圖像中的視差，從而重建出物體表面的三維形貌。在物體發(fā)生變形時，系統(tǒng)會比較變形前后的圖像，通過圖像像素點的移動來計算出物體表面的位移及應變分布。此外，光學非接觸應變測量技術的應用范圍廣泛，不僅適用于室內外普通環(huán)境，還可以在極端溫度、高速加載等特殊條件下使用。這使得它非常適合于各種材料的力學性能測試，如金屬、塑料、橡膠、復合材料等。它同樣可以用于實際組件的變形和應變分析，包括成形極限曲線、殘余應力分析等。同時，這一技術還能夠為有限元分析提供準確的實驗數據，幫...

光學非接觸應變測量技術在實際應用中可以采取多種措施來克服環(huán)境因素的干擾。首先，對于光照變化的影響，可以采用封閉或遮光的措施來控制實驗環(huán)境的光線條件，或者使用對光線變化不敏感的傳感器和算法。例如，數字圖像相關（DIC）技術通過圖像相關點進行對比算法，能夠在不同光照條件下計算出物體表面的位移及應變分布。其次，針對振動問題，可以通過穩(wěn)定固定測量設備，或者使用抗振動設計的儀器來減少振動對測量結果的影響。在某些情況下，還可以采用濾波或平均處理數據的方法來消除振動帶來的噪聲。再者，對于溫度波動，可以利用溫度補償技術，如使用溫度穩(wěn)定的材料或結構，或者在數據處理中考慮溫度變化的影響。激光測量技術通...

在實際應用中，光學非接觸應變測量技術確實會受到多種環(huán)境因素的干擾，如光照變化、振動或溫度波動等。為了克服這些干擾，可以采取以下策略：光照變化的應對策略：使用穩(wěn)定的光源：選擇光源時，應優(yōu)先考慮輸出穩(wěn)定、波動小的光源，如激光器等。動態(tài)調整曝光時間：根據實時光照強度動態(tài)調整相機的曝光時間，確保圖像質量穩(wěn)定。圖像增強與校正算法：利用圖像處理算法對圖像進行增強和校正，以消除光照不均或陰影對測量結果的影響。振動的應對策略：隔振措施：在實驗裝置周圍設置隔振平臺或隔振墊，以減少外界振動對測量系統(tǒng)的影響。高速攝像技術：采用高速相機進行拍攝，通過縮短曝光時間和提高幀率來減少振動對圖像質量的影響。數據處...

光學非接觸應變測量技術有數字散斑干涉法：基本原理：利用散斑干涉裝置，通過對散斑圖案的分析來獲得應變信息。優(yōu)點：可以實現高精度的應變測量，對材料表面狀態(tài)的要求相對較低。缺點：對光路穩(wěn)定性和環(huán)境光干擾要求較高。激光測振法：基本原理：利用激光測振儀器測量被測物體表面的振動頻率和振幅，通過分析變化來計算應變。優(yōu)點：非常適用于動態(tài)應變的測量，可以實現高頻率的應變監(jiān)測。缺點：受到材料表面的反射性和干擾因素的影響。每種光學非接觸應變測量技術都有其獨特的優(yōu)點和局限性，選擇合適的技術需要根據具體的應用需求和被測對象的特點來進行綜合考量。 光學應變測量相比于傳統(tǒng)接觸式測量方法，具有高精度、高靈敏度和高...

光學非接觸應變測量技術在復雜材料和結構的應變測量中面臨的挑戰(zhàn)包括：材料特性的復雜性：多層復合材料和非均勻材料由于其不均勻和各向異性的特點，使得準確捕捉應變分布變得困難。長期測量的穩(wěn)定性問題：對于需要長期監(jiān)測應變的環(huán)境，如何保持測量設備的穩(wěn)定性和準確性是一大挑戰(zhàn)。三維全場測量的需求：復雜結構和材料往往需要三維全場的應變測量來***理解其力學行為，而不**是簡單的一維或二維測量。為了克服這些挑戰(zhàn)，提高測量的準確性和可靠性，可以采取以下措施：采用先進的數字圖像相關技術（DIC）：通過追蹤物體表面的散斑圖像，可以實現變形過程中物體表面的三維全場應變測量。 數字圖像相關法與激光散斑法是光學非...

光學非接觸應變測量是一種利用數字圖像相關技術來實現對材料或結構表面應變進行高精度、全視場的測量方法。光學非接觸應變測量技術，也被稱為數字圖像相關（DigitalImageCorrelation，DIC）技術，是一種通過比較物體變形前后的表面圖像來測量其位移和應變的技術。這種技術在實驗力學領域中非常重要，因為它可以提供非接觸式的、全場范圍內的三維位移和應變數據，使得它成為材料性能測試、部件測試和有限元分析等多種應用的有效工具。光學非接觸應變測量技術的中心在于數字圖像相關算法，該算法通過追蹤物體表面圖像的特征點或紋理在變形過程中的移動來計算出位移和應變分布。在實際操作中，通常使用一臺或...

光學非接觸應變測量技術主要包括激光全息干涉法、數字散斑干涉法、云紋干涉法以及數字圖像處理法等。這些技術都基于光學原理，通過測量物體表面的光場變化來推斷其應變狀態(tài)。激光全息干涉法：基本原理：利用激光的相干性，通過干涉的方式將物體變形前后的光波場以全息圖的形式記錄下來，然后利用全息圖的再現過程，比較物體變形前后的光波場變化，從而獲取物體的應變信息。優(yōu)點：具有全場、非接觸、高精度等優(yōu)點，能夠測量微小變形。缺點：對實驗環(huán)境要求較高，如需要隔振、穩(wěn)定光源等，且數據處理相對復雜。數字散斑干涉法：基本原理：通過在物體表面形成隨機分布的散斑場，利用干涉原理記錄物體變形前后的散斑場變化，通過數字圖像...

光學非接觸應變測量是一種通過光學方法測量材料應變狀態(tài)的技術，主要用于工程應力分析、材料性能評估等領域。其原理基于光學干涉的原理和應變光柵的工作原理。以下是光學非接觸應變測量的基本原理：干涉原理：光學非接觸應變測量技術利用光學干涉原理來測量材料表面的微小位移或形變。當光線通過不同光程的路徑后再次疊加時，會出現干涉現象。這種干涉現象可以用來測量材料表面的微小變形，從而間接推斷出應變狀態(tài)。應變光柵原理：應變光柵是一種具有周期性光學結構的傳感器，通常由激光光源、光柵和相機組成。應變光柵的工作原理是通過激光光源照射到被測物體表面，光柵在表面形成一種周期性的圖案。當被測物體發(fā)生形變時，光柵圖案...

光學非接觸應變測量技術在動態(tài)和靜態(tài)應變測量中的表現各有特點，并且其在不同頻率和振幅下的測量精度和穩(wěn)定性也會有所不同。在靜態(tài)應變測量中：光學非接觸應變測量技術，如數字圖像相關法（DIC）或全息干涉法等，可以通過分析材料表面的圖像或干涉條紋來測量靜態(tài)應變。這些技術通常具有較高的測量精度，因為它們依賴于圖像處理和計算機視覺算法來精確分析材料表面的變形。然而，靜態(tài)測量通常需要對圖像進行長時間的采集和分析，因此可能受到環(huán)境噪聲、光照條件或材料表面特性的影響。在動態(tài)應變測量中：光學非接觸應變測量技術也顯示出良好的性能。高速相機和激光干涉儀等設備可以用于捕捉材料在動態(tài)加載下的變形過程。這些技術能...

光學非接觸應變測量的原理主要基于光學原理，利用光學測量系統(tǒng)來測量物體的應變情況。具體來說，這種測量方式通過光線照射在被測物體上，并測量反射光線的位移來計算應變情況。在實際應用中，光學非接觸應變測量系統(tǒng)結合了激光或數碼相機與記錄系統(tǒng)和圖像測量技術。通過捕捉物體表面的圖像，并利用圖像處理技術，可以精確計算物體在測試過程中的多軸位移、應變和應變率。這種測量方法中最常見的技術包括激光器、光學線掃描儀和數字圖像相關（DIC）軟件。 通過光柵或激光干涉儀，光學非接觸應變測量能精確捕捉物體的應變。江西全場數字圖像相關應變測量系統(tǒng) 光學非接觸應變測量方法是一種通過使用光學技術來測量物體表...

光學非接觸應變測量技術是一種通過光學方法來測量物體表面應變的技術。它具有不破壞性、高精度、高靈敏度等優(yōu)點，因此在材料科學、工程領域等方面有著廣泛的應用。隨著科技的不斷發(fā)展，光學非接觸應變測量技術也在不斷進步和完善。其中的一些發(fā)展包括：1.傳感器技術的進步：隨著光學傳感器技術的發(fā)展，新型的傳感器不斷涌現，具有更高的靈敏度和更廣的測量范圍，能夠滿足不同應用領域的需求。2.圖像處理算法的改進：圖像處理算法的改進可以提高數據的準確性和穩(wěn)定性，使得測量結果更加可靠和精確。3.多參數測量的實現：光學非接觸應變測量技術不僅可以測量應變，還可以同時測量其他參數，如溫度、形變等，從而提供更全方面的信息。光學非接...

光學非接觸應變測量技術在復雜材料和結構的應變測量中可能面臨以下挑戰(zhàn)：材料特性：復雜材料和結構的非均勻性、各向異性等特性可能導致應變場的復雜性，增加了測量的難度。表面處理：復雜材料表面的光學特性和反射性可能會影響光學傳感器的測量精度和穩(wěn)定性。測量環(huán)境：測量環(huán)境的振動、溫度變化等因素可能會影響光學傳感器的性能和測量結果。為了克服這些挑戰(zhàn)，可以采取以下措施提高測量的準確性和可靠性：適當的光學配置：選擇合適的光學傳感器和配置方案，以很大程度地適應復雜材料和結構的特性，如采用不同波長的激光或使用多個傳感器組合測量等。 光學非接觸應變測量技術通過光干涉或光柵投影等方法，實現對物體表面形變的高精...

光學非接觸應變測量技術在復雜材料和結構的應變測量中可能面臨以下挑戰(zhàn)：材料特性：復雜材料和結構的非均勻性、各向異性等特性可能導致應變場的復雜性，增加了測量的難度。表面處理：復雜材料表面的光學特性和反射性可能會影響光學傳感器的測量精度和穩(wěn)定性。測量環(huán)境：測量環(huán)境的振動、溫度變化等因素可能會影響光學傳感器的性能和測量結果。為了克服這些挑戰(zhàn)，可以采取以下措施提高測量的準確性和可靠性：適當的光學配置：選擇合適的光學傳感器和配置方案，以很大程度地適應復雜材料和結構的特性，如采用不同波長的激光或使用多個傳感器組合測量等。 光學非接觸應變測量具有高精度和非接觸的特點，能夠準確測量物體表面的應變情況...

多參數測量：結合多個光學測量技術，如全場測量、多通道測量等，獲取更多的應變信息，提高測量的全局性和準確性。數據處理和分析：對于復雜材料和結構，采用適當的數據處理和分析方法，如圖像處理、有限元分析等，以提取和解釋測量數據中的應變信息。表面處理和光源優(yōu)化：對于材料表面形貌和反射率不均勻的問題，可以采用表面處理技術，如拋光、涂層等，以提高測量信號的質量和一致性。同時，優(yōu)化光源的選擇和穩(wěn)定性，以減小外界環(huán)境對測量的干擾。模擬和仿真：利用數值模擬和仿真方法，對復雜材料和結構的應變場進行預測和優(yōu)化，輔助實際測量的設計和解釋。綜上所述，克服復雜材料和結構的應變測量挑戰(zhàn)需要綜合運用校準、多參數測量...

光學非接觸應變測量是一種利用光學原理和傳感器技術，對物體表面的應變進行非接觸式測量的方法。技術特點——非接觸性：無需在物體表面安裝傳感器或夾具，避免了傳統(tǒng)接觸式測量方法對物體表面的損傷和測量誤差。高精度：隨著光學技術和傳感器技術的不斷發(fā)展，光學非接觸應變測量的精度不斷提高，可以滿足高精度測量的需求。實時性：可以實時監(jiān)測物體表面的應變變化，提供動態(tài)應變數據。全場測量：可以實現物體表面的全場應變測量，獲得更較全的應變分布信息。適用范圍廣：適用于各種材料和形狀的物體，包括高溫、高壓等惡劣環(huán)境下的測量。 光學測量方法的高靈敏度和高分辨率使得光學應變測量設備的分辨率可以達到亞微應變級別。廣...

光學非接觸應變測量系統(tǒng)能夠準確測量微小的應變值。光學非接觸應變測量系統(tǒng)，如XTDIC系統(tǒng)，是一種先進的測量技術，它結合了數字圖像相關技術（DIC）與雙目立體視覺技術。這種技術通過追蹤物體表面的圖像，能夠在變形過程中實現物體三維坐標、位移及應變的精確測量。具體來說，這種系統(tǒng)具有以下特點：便攜性：系統(tǒng)設計通常考慮到現場使用的便利性，因此具有良好的攜帶特性。速度：該系統(tǒng)能夠快速捕捉和處理數據，適用于動態(tài)測量場景。精度：具備高精度的特點，能夠進行微小應變的準確測量，位移測量精度可達。易操作：用戶界面友好，便于操作人員快速上手和使用。實時測量：能夠在采集圖像的同時，實時進行全場應變計算。 光...

應變測量范圍廣：從，覆蓋了從微小應變到大應變的較廣范圍。適用性：適用于多種尺寸的測量，從小尺寸的微小物體到大型結構件都能有效測量。接口多樣：提供多種數據接口，可以與其他設備如試驗機等進行聯(lián)動，實時同步采集相關信號。盡管光學非接觸應變測量系統(tǒng)在技術上已經非常成熟，并且在國內也有工業(yè)級的產品，但它可能不適合長期（如十年以上）的測量需求。這是因為任何測量系統(tǒng)都可能隨著時間的推移而出現性能退化，因此在長期測量中可能需要定期校準和維護。綜上所述，光學非接觸應變測量系統(tǒng)不僅能夠提供高精度的測量結果，還能夠準確地捕捉到微小的應變值，這使得它在材料科學、結構工程以及許多其他領域都有著較廣的應用。然...

光學非接觸應變測量技術在動態(tài)和靜態(tài)應變測量中的表現各有特點，并且其在不同頻率和振幅下的測量精度和穩(wěn)定性也會有所不同。在靜態(tài)應變測量中：光學非接觸應變測量技術，如數字圖像相關法（DIC）或全息干涉法等，可以通過分析材料表面的圖像或干涉條紋來測量靜態(tài)應變。這些技術通常具有較高的測量精度，因為它們依賴于圖像處理和計算機視覺算法來精確分析材料表面的變形。然而，靜態(tài)測量通常需要對圖像進行長時間的采集和分析，因此可能受到環(huán)境噪聲、光照條件或材料表面特性的影響。在動態(tài)應變測量中：光學非接觸應變測量技術也顯示出良好的性能。高速相機和激光干涉儀等設備可以用于捕捉材料在動態(tài)加載下的變形過程。這些技術能...