1.1高速信號(hào)傳輸工程化技術(shù)問題 當(dāng)前，無論是消費(fèi)類電子產(chǎn)品、商用類電子產(chǎn)品，還是電子產(chǎn)品，其處理能力均達(dá)到了較高的水平，尤其是一些具有標(biāo)志性的技術(shù)指標(biāo)，如處理器主頻已經(jīng)達(dá)到GHz，其中的某些電信號(hào)傳輸速率已達(dá)到Gbps以上。如蘋果手機(jī)iPhoneX...

LPDDR4是低功耗雙數(shù)據(jù)率（Low-PowerDoubleDataRate）的第四代標(biāo)準(zhǔn)，主要用于移動(dòng)設(shè)備的內(nèi)存存儲(chǔ)。其主要特點(diǎn)如下：低功耗：LPDDR4借助新一代電壓引擎技術(shù)，在保持高性能的同時(shí)降低了功耗。相比于前一代LPDDR3，LPDDR4的功耗降低約...

LPDDR4支持多種密度和容量范圍，具體取決于芯片制造商的設(shè)計(jì)和市場(chǎng)需求。以下是一些常見的LPDDR4密度和容量范圍示例：4Gb(0.5GB)：這是LPDDR4中小的密度和容量，適用于低端移動(dòng)設(shè)備或特定應(yīng)用領(lǐng)域。8Gb(1GB)、16Gb(2GB)：這些是常見...

LPDDR4支持多種密度和容量范圍，具體取決于芯片制造商的設(shè)計(jì)和市場(chǎng)需求。以下是一些常見的LPDDR4密度和容量范圍示例：4Gb(0.5GB)：這是LPDDR4中小的密度和容量，適用于低端移動(dòng)設(shè)備或特定應(yīng)用領(lǐng)域。8Gb(1GB)、16Gb(2GB)：這些是常見...

LPDDR4的寫入和擦除速度受到多個(gè)因素的影響，包括存儲(chǔ)芯片的性能、容量、工作頻率，以及系統(tǒng)的配置和其他因素。通常情況下，LPDDR4具有較快的寫入和擦除速度，可以滿足大多數(shù)應(yīng)用的需求。關(guān)于寫入操作，LPDDR4使用可變延遲寫入（VariableLatency...

LPDDR4是LowPowerDoubleDataRate4的縮寫，即低功耗雙數(shù)據(jù)率第四代。它是一種用于移動(dòng)設(shè)備的內(nèi)存技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。LPDDR4集成了先進(jìn)的功耗管理技術(shù)和高性能的數(shù)據(jù)傳輸速率，使其適合用于智能手機(jī)、平板電腦、便攜式游戲機(jī)等移動(dòng)設(shè)備。LPDDR4相比...

信號(hào)完整性分析三種測(cè)試方法 在信號(hào)完整性分析中，常用的測(cè)試方法包括以下三種： 1.時(shí)域測(cè)試：時(shí)域測(cè)試是通過觀察信號(hào)在時(shí)間軸上的波形來分析信號(hào)完整性。時(shí)域測(cè)試可以幫助識(shí)別信號(hào)的上升時(shí)間、下降時(shí)間、瞬態(tài)響應(yīng)等參數(shù)，從而評(píng)估信號(hào)是否存在失真。 ...

二進(jìn)制信號(hào)傳輸時(shí)的眼圖只有一只“眼睛”，當(dāng)傳輸三元碼時(shí)，會(huì)顯示兩只“眼睛”。眼圖是由各段碼元波形疊加而成的，眼圖的垂直線表示比較好抽樣時(shí)刻，位于兩峰值中間的水平線是判決門限電平。在間串?dāng)_和噪聲的理想情況下，波形無失真，每個(gè)碼元將重疊在一起，終在示波器上看到的是...

信號(hào)的能量大部分集中在信號(hào)帶寬以下，意味著我們?cè)诳紤]這個(gè)信號(hào)的傳輸效應(yīng)時(shí)， 主要關(guān)注比較高頻率可以到信號(hào)的帶寬。 所以，假如在數(shù)字信號(hào)的傳輸過程中可以保證在信號(hào)的帶寬（0.35億）以下的頻率分量（模 擬信號(hào)）經(jīng)過互連路徑的質(zhì)量，則我們可以保證接收到比...

(2)根據(jù)讀/寫信號(hào)的幅度不同進(jìn)行分離。如果PCB走線長度比較 長，在不同位置測(cè)試時(shí)可能讀/寫信號(hào)的幅度不太一樣，可以基于幅度進(jìn)行觸發(fā)分離。但是 這種方法對(duì)于走線長度不長或者讀/寫信號(hào)幅度差別不大的場(chǎng)合不太適用。 (3)根據(jù)RAS、CAS、CS、WE...

電氣完整性是電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)中極其重要的一環(huán)，它是指在電路或系統(tǒng)運(yùn)行過程中保持正常的電學(xué)特性，如電壓、電流、電阻等，同時(shí)也涵蓋了電磁兼容性和信號(hào)完整性分析。在設(shè)計(jì)高速電子設(shè)備時(shí)，如高速集成電路、高速IO端口等，電氣完整性分析是必不可少的，因?yàn)殡姎馔暾詥栴}可能...

電氣完整性測(cè)試是電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造過程中非常重要的步驟。在電子產(chǎn)品中，信號(hào)傳輸是一個(gè)至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。如果傳輸?shù)男盘?hào)不穩(wěn)定或失真，電子產(chǎn)品可能無法正常工作，甚至?xí)p壞其他設(shè)備。因此，電氣完整性測(cè)試的主要目的是確保設(shè)計(jì)的電路板能夠可靠地傳輸信號(hào)，并在不同工作環(huán)...

DDR系統(tǒng)設(shè)計(jì)過程，以及將實(shí)際的設(shè)計(jì)需求和DDR規(guī)范中的主要性能指標(biāo)相結(jié)合，我們以一個(gè)實(shí)際的設(shè)計(jì)分析實(shí)例來說明，如何在一個(gè)DDR系統(tǒng)設(shè)計(jì)中，解讀并使用DDR規(guī)范中的參數(shù)，應(yīng)用到實(shí)際的系統(tǒng)設(shè)計(jì)中。某項(xiàng)目中，對(duì)DDR系統(tǒng)的功能模塊細(xì)化框圖。在這個(gè)系統(tǒng)中，對(duì)DD...

信號(hào)完整性的設(shè)計(jì)方法（步驟） 掌握信號(hào)完整性問題的相關(guān)知識(shí)；系統(tǒng)設(shè)計(jì)階段采用規(guī)避信號(hào)完整性風(fēng)險(xiǎn)的設(shè)計(jì)方案，搭建穩(wěn)健的系統(tǒng)框架；對(duì)目標(biāo)電路板上的信號(hào)進(jìn)行分類，識(shí)別潛在的SI風(fēng)險(xiǎn)，確定SI設(shè)計(jì)的總體原則；在原理圖階段，按照一定的方法對(duì)部分問題提前進(jìn)行SI...

電氣完整性測(cè)試通常會(huì)涉及以下幾個(gè)方面的內(nèi)容： 1.時(shí)域分析測(cè)試：時(shí)域分析測(cè)試能夠幫助測(cè)試人員檢測(cè)信號(hào)的時(shí)序完整性和穩(wěn)定性。通常，測(cè)試人員會(huì)通過示波器、面板測(cè)試器等設(shè)備對(duì)信號(hào)進(jìn)行時(shí)域分析，并對(duì)信號(hào)的上升時(shí)間、下降時(shí)間、峰峰值和波形形狀等參數(shù)進(jìn)行測(cè)試和分...

LVDS（低壓差分信號(hào)）物理層信號(hào)完整性測(cè)試通常涉及以下幾個(gè)方面的考慮：信號(hào)波形測(cè)試：包括時(shí)鐘、數(shù)據(jù)和控制信號(hào)的波形測(cè)試，以確保它們符合LVDS標(biāo)準(zhǔn)的要求。這可能涉及使用示波器或者邏輯分析儀進(jìn)行波形捕獲和分析。信號(hào)幅度和功耗測(cè)試：需要確認(rèn)信號(hào)的幅度符合LVDS...

電氣完整性測(cè)試通常會(huì)關(guān)注以下幾個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)：1.插入損耗（InsertionLoss）： 插入損耗是指信號(hào)穿過PCB時(shí)的損耗強(qiáng)度，即輸入水平和輸出水平之間的差異。插入損耗是反映信號(hào)傳輸質(zhì)量的一個(gè)重要指標(biāo)，一般情況下，插入損耗應(yīng)該小于0.5dB。 ...

共享式以太網(wǎng) 共享式以太網(wǎng)的典型是使用10Base2/10Base5的總線型網(wǎng)絡(luò)和以集線器（集線 器）為的星型網(wǎng)絡(luò)。在使用集線器的以太網(wǎng)中，集線器將很多以太網(wǎng)設(shè)備集中到一臺(tái)中心設(shè)備上，這些設(shè)備都連接到集線器中的同一物理總線結(jié)構(gòu)中。從本質(zhì)上講，以集線...

4.環(huán)行測(cè)試法（LoopbackTesting）：這種方法將信號(hào)經(jīng)過被測(cè)設(shè)備后，再經(jīng)過回路檢查信號(hào)質(zhì)量，評(píng)估信號(hào)完整性。這種方法應(yīng)用于設(shè)備信號(hào)完整性評(píng)估中較為常用。 進(jìn)行信號(hào)完整性測(cè)試后，需要對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，通常包括以下幾個(gè)方面： 1.處理眼圖...

信號(hào)完整性是指保證信號(hào)在傳輸路徑中受到少的干擾和失真以及在接收端能夠正確解碼。在高速數(shù)字系統(tǒng)中，信號(hào)完整性是保證系統(tǒng)性能和可靠性的關(guān)鍵因素。本文將介紹信號(hào)完整性的基礎(chǔ)知識(shí)。 1. 信號(hào)完整性相關(guān)參數(shù)： -上升時(shí)間：信號(hào)從低電平變?yōu)楦唠娖剿璧臅r(shí)...

電氣完整性測(cè)試通常包括以下幾種類型： 1.傳輸線完整性測(cè)試：主要測(cè)試傳輸線電氣信號(hào)在傳輸過程中的完整性，包括傳輸線的阻抗、傳輸線的衰減、傳輸線的反射系數(shù)等。 2.時(shí)序完整性測(cè)試：主要測(cè)試電路設(shè)計(jì)中不同信號(hào)之間的時(shí)序關(guān)系是否符合要求，其中包括時(shí)鐘...

電氣完整性測(cè)試可以使用多種工具進(jìn)行，常見的有以下幾種： 1.多用表：可以測(cè)量電路的電壓、電流、電阻等參數(shù)，是常見的電氣測(cè)試工具之一。 2.熔斷器性能測(cè)試儀：用于檢查熔斷器的性能，包括額定電流及過流保護(hù)時(shí)間。 3.地絕緣測(cè)試儀：用于檢測(cè)設(shè)備...

4.環(huán)行測(cè)試法（LoopbackTesting）：這種方法將信號(hào)經(jīng)過被測(cè)設(shè)備后，再經(jīng)過回路檢查信號(hào)質(zhì)量，評(píng)估信號(hào)完整性。這種方法應(yīng)用于設(shè)備信號(hào)完整性評(píng)估中較為常用。 進(jìn)行信號(hào)完整性測(cè)試后，需要對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，通常包括以下幾個(gè)方面： 1.處理眼圖...

如果LVDS發(fā)射端一致性測(cè)試未通過，表示LVDS發(fā)射器的性能沒有達(dá)到預(yù)期或規(guī)定要求。在這種情況下，可以考慮以下幾個(gè)處理步驟：檢查測(cè)試設(shè)置和參數(shù)：首先，檢查測(cè)試設(shè)置和參數(shù)是否正確。確保采用了適當(dāng)?shù)臏y(cè)試方法、正確的測(cè)試設(shè)備和合適的測(cè)試條件。如果發(fā)現(xiàn)測(cè)試設(shè)置有誤，可...

阻抗匹配：確保傳輸線的特征阻抗與驅(qū)動(dòng)器和之間的阻抗相匹配非常重要。如果阻抗不匹配，會(huì)導(dǎo)致信號(hào)反射、衰減和時(shí)鐘抖動(dòng)等問題，從而影響信號(hào)完整性和可靠性。使用規(guī)范的電路板材料和精確的布線參數(shù)，并采用適當(dāng)?shù)木€纜、連接器和終端設(shè)計(jì)，可以實(shí)現(xiàn)正確的阻抗匹配。時(shí)鐘和校準(zhǔn)：時(shí)...

高速串行數(shù)據(jù)測(cè)試：這個(gè)測(cè)試主要針對(duì)eDP接口的高速差分信號(hào)進(jìn)行，以驗(yàn)證數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性和準(zhǔn)確性。通過比特錯(cuò)誤率（BER）檢測(cè)和眼圖（eye diagram）分析等方法評(píng)估傳輸?shù)馁|(zhì)量。電源和地線穩(wěn)定性測(cè)試：eDP接口的穩(wěn)定供電和良好的地線連接對(duì)于信號(hào)完整性至關(guān)重...

信號(hào)電平和波形測(cè)量：測(cè)量LVDS信號(hào)的電平值、上升/下降時(shí)間、振蕩環(huán)節(jié)、眼圖等參數(shù)，以評(píng)估信號(hào)的質(zhì)量和穩(wěn)定性。抖動(dòng)和時(shí)鐘同步：評(píng)估信號(hào)的抖動(dòng)特性，包括峰-峰抖動(dòng)和時(shí)鐘同步，檢查抖動(dòng)是否超出規(guī)定容許值，并確保信號(hào)的時(shí)鐘和數(shù)據(jù)同步。串?dāng)_和噪聲抑制：通過注入干擾信號(hào)...

LVDS發(fā)射端一致性測(cè)試通常涵蓋以下一些常見的測(cè)試項(xiàng)目：電氣參數(shù)測(cè)試：包括信號(hào)幅度、波形、偏移、差分幅度和傳輸速率等電氣參數(shù)的測(cè)量和測(cè)試。這些參數(shù)測(cè)試主要用于驗(yàn)證LVDS發(fā)射器輸出信號(hào)的電氣特性是否符合規(guī)定的要求?？垢蓴_能力測(cè)試：測(cè)試LVDS發(fā)射器在面臨特定干...

評(píng)估eDP物理層信號(hào)完整性常需要進(jìn)行以下測(cè)試和分析：信號(hào)電平測(cè)量：使用示波器或邏輯分析儀等設(shè)備來測(cè)量信號(hào)的電平，并確保其符合規(guī)范要求。時(shí)域分析：使用時(shí)域分析器觀察信號(hào)的波形變化、毛刺和幅度失真等情況。眼圖分析：使用眼圖儀器來展示信號(hào)眼圖，包括開口寬度和形狀等參...

分析和測(cè)量波形參數(shù)：使用示波器的測(cè)量功能，測(cè)量LVDS信號(hào)的各種參數(shù)，如上升/下降時(shí)間、峰-峰幅值、噪聲水平和時(shí)鐘的相位差等。驗(yàn)證與規(guī)范比較：將測(cè)量得到的信號(hào)波形參數(shù)與設(shè)計(jì)要求或相關(guān)的規(guī)范進(jìn)行比較，確保信號(hào)波形符合要求。調(diào)整和優(yōu)化：如果信號(hào)波形不滿足設(shè)計(jì)要求或...