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而是板級(jí)設(shè)計(jì)中多種因素共同引起的，主要的信號(hào)完整性問題包括反射、振鈴、地彈、串?dāng)_等，下面主要介紹串?dāng)_和反射的解決方法。串?dāng)_分析：串?dāng)_是指當(dāng)信號(hào)在傳輸線上傳播時(shí)，因電磁耦合對(duì)相鄰的傳輸線產(chǎn)生不期望的電壓噪聲干擾。過大的串?dāng)_可能引起電路的誤觸發(fā)，導(dǎo)致系統(tǒng)無法正常工作。由于串?dāng)_大小與線間距成反比，與線平行長度成正比。串?dāng)_隨電路負(fù)載的變化而變化，對(duì)于相同拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和布線情況，負(fù)載越大，串?dāng)_越大。串?dāng)_與信號(hào)頻率成正比，在數(shù)字電路中，信號(hào)的邊沿變化對(duì)串?dāng)_的影響比較大，邊沿變化越快，串?dāng)_越大。針對(duì)以上這些串?dāng)_的特性，可以歸納為以下幾種減小串?dāng)_的方法：(1)在可能的情況下降低信號(hào)沿的變換速率。通過在器件選型的時(shí)候，在滿足設(shè)計(jì)規(guī)范的同時(shí)應(yīng)盡量選擇慢速的器件，并且避免不同種類的信號(hào)混合使用，因?yàn)榭焖僮儞Q的信號(hào)對(duì)慢變換的信號(hào)有潛在的串?dāng)_危險(xiǎn)。(2)容性耦合和感性耦合產(chǎn)生的串?dāng)_隨受干擾線路負(fù)載阻抗的增大而增大，所以減小負(fù)載可以減小耦合干擾的影響。(3)在布線條件許可的情況下，盡量減小相鄰傳輸線間的平行長度或者增大可能發(fā)生容性耦合導(dǎo)線之間的距離，如采用3W原則。還在為PCB設(shè)計(jì)版圖而煩惱？幫您解決此困擾！出樣速度快，價(jià)格優(yōu)惠，歡迎各位老板電話咨詢！四層pcb價(jià)格咨詢

接下去文中將對(duì)PCI-ELVDS信號(hào)走線時(shí)的常見問題開展小結(jié)：PCI-E差分線走線標(biāo)準(zhǔn)（1）針對(duì)裝卡或擴(kuò)展槽而言，從火紅金手指邊沿或是擴(kuò)展槽管腳到PCI-ESwitch管腳的走線長度應(yīng)限定在4英寸之內(nèi)。此外，遠(yuǎn)距離走線應(yīng)當(dāng)在PCB上走斜杠。（2）防止參照平面圖的不持續(xù)，例如切分和間隙。（3）當(dāng)LVDS信號(hào)線轉(zhuǎn)變層時(shí)，地信號(hào)的焊盤宜放得挨近信號(hào)過孔，對(duì)每對(duì)信號(hào)的一般規(guī)定是**少放1至3個(gè)地信號(hào)過孔，而且始終不必讓走線越過平面圖的切分。（4）應(yīng)盡量減少走線的彎折，防止在系統(tǒng)軟件中引進(jìn)共模噪音，這將危害差分對(duì)的信號(hào)一致性和EMI。全部走線的彎折視角應(yīng)當(dāng)高于或等于135度，差分對(duì)走線的間隔維持50mil之上，彎折產(chǎn)生的走線**短應(yīng)當(dāng)超過。當(dāng)一段環(huán)形線用于和此外一段走線來開展長度匹配，如圖2所顯示，每段長彎曲的長度務(wù)必**少有15mil（3倍于5mil的圖形界限）。環(huán)形線彎曲一部分和差分線的另一條線的**大間距務(wù)必低于一切正常差分線距的2倍。環(huán)形走線（5）差分對(duì)中兩根手機(jī)充電線的長度差別需要在5mil之內(nèi)，每一部分都規(guī)定長度匹配。在對(duì)差分線開展長度匹配時(shí)，匹配設(shè)計(jì)方案的部位應(yīng)當(dāng)挨近長度不匹配所屬的部位，如圖所示3所顯示。但對(duì)傳送對(duì)和接受對(duì)的長度匹配沒有做實(shí)際規(guī)定。吉林雙層pcb價(jià)格咨詢專業(yè)提供PCB設(shè)計(jì)版圖服務(wù),經(jīng)驗(yàn)豐富,24小時(shí)出樣，收費(fèi)合理,值得選擇!

因此測試點(diǎn)占有線路板室內(nèi)空間的難題，常常在設(shè)計(jì)方案端與生產(chǎn)制造端中間拔河賽，但是這一議案等之后還有機(jī)會(huì)再說談。測試點(diǎn)的外型一般是環(huán)形，由于探針也是環(huán)形，比較好生產(chǎn)制造，也較為非常容易讓鄰近探針靠得近一點(diǎn)，那樣才能夠提升針床的植針相對(duì)密度。1.應(yīng)用針床來做電源電路測試會(huì)出現(xiàn)一些組織上的先天性上限定，例如：探針的較少直徑有一定極限，很小直徑的針非常容易斷裂損壞。2.針間間距也是有一定限定，由于每一根針必須從一個(gè)孔出去，并且每根針的后端開發(fā)都也要再電焊焊接一條扁平電纜，假如鄰近的孔很小，除開針與針中間會(huì)出現(xiàn)觸碰短路故障的難題，扁平電纜的干預(yù)也是一大難題。3.一些高零件的邊上沒法植針。假如探針間距高零件太近便會(huì)有撞擊高零件導(dǎo)致?lián)p害的風(fēng)險(xiǎn)性，此外由于零件較高，一般也要在測試夾具針床座上打孔繞開，也間接性導(dǎo)致沒法植針。電路板上愈來愈難容下的下全部零件的測試點(diǎn)。4.因?yàn)槟景逵鷣碛。瑴y試點(diǎn)多少的存廢屢次被拿出來探討，如今早已擁有一些降低測試點(diǎn)的方式出現(xiàn)，如Nettest、TestJet、BoundaryScan、JTAG.。。等；也是有其他的測試方式要想替代本來的針床測試，如AOI、X-Ray，但現(xiàn)階段每一個(gè)測試好像都還沒法。

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對(duì)學(xué)電子器件的人而言，在電路板上設(shè)定測試點(diǎn)（testpoint）是在當(dāng)然但是的事了，但是對(duì)學(xué)機(jī)械設(shè)備的人而言，測試點(diǎn)是啥？大部分設(shè)定測試點(diǎn)的目地是為了更好地測試電路板上的零組件是否有合乎規(guī)格型號(hào)及其焊性，例如想查驗(yàn)一顆電路板上的電阻器是否有難題，非常簡單的方式便是拿萬用電表測量其兩邊就可以知道。但是在批量生產(chǎn)的加工廠里沒有辦法給你用電度表漸漸地去量測每一片木板上的每一顆電阻器、電容器、電感器、乃至是IC的電源電路是不是恰當(dāng)，因此就擁有說白了的ICT（In-Circuit-Test）自動(dòng)化技術(shù)測試機(jī)器設(shè)備的出現(xiàn)，它應(yīng)用多條探針（一般稱作「針床（Bed-Of-Nails）」夾具）另外觸碰木板上全部必須被測量的零件路線，隨后經(jīng)過程序控制以編碼序列為主導(dǎo)，并排輔助的方法順序測量這種電子零件的特點(diǎn)，一般那樣測試一般木板的全部零件只必須1~2分鐘上下的時(shí)間能夠進(jìn)行，視電路板上的零件多少而定，零件越多時(shí)間越長。可是假如讓這種探針直接接觸到木板上邊的電子零件或者其焊腳，很有可能會(huì)壓毀一些電子零件，反倒得不償失，因此聰慧的技術(shù)工程師就創(chuàng)造發(fā)明了「測試點(diǎn)」，在零件的兩邊附加引出來一對(duì)環(huán)形的小一點(diǎn)，上邊沒有防焊（mask）。PCB設(shè)計(jì)、電路板開發(fā)、電路板加工、電源適配器銷售，就找，專業(yè)生產(chǎn)24小時(shí)出樣！天津2層pcb價(jià)目表

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合理進(jìn)行電路建模仿真是較常見的信號(hào)完整性解決方法，在高速電路設(shè)計(jì)中，仿真分析越來越顯示出優(yōu)越性。它給設(shè)計(jì)者以準(zhǔn)確、直觀的設(shè)計(jì)結(jié)果，便于及早發(fā)現(xiàn)問題，及時(shí)修改，從而縮短設(shè)計(jì)時(shí)間，降低設(shè)計(jì)成本。常用的有3種：SPICE模型，IBIS模型，Verilog-A模型。SPICE是一種功能強(qiáng)大的通用模擬電路仿真器。它由兩部分組成：模型方程式(ModelEquation)和模型參數(shù)(ModelParameters)。由于提供了模型方程式，因而可以把SPICE模型與仿真器的算法非常緊密地連接起來，可以獲得更好的分析效率和分析結(jié)果；IBIS模型是專門用于PCB板級(jí)和系統(tǒng)級(jí)的數(shù)字信號(hào)完整性分析的模型。它采用I/V和V/T表的形式來描述數(shù)字集成電路I/O單元和引腳的特性，IBIS模型的分析精度主要取決于1/V和V/T表的數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)和數(shù)據(jù)的精確度，與SPICE模型相比，IBIS模型的計(jì)算量很小。四層pcb價(jià)格咨詢

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