當一塊PCB板完成了布局布線，并且檢查了連通性和間距都沒有發現問題的情況下，一塊PCB是不是就完成了呢？答案當然是否定的。很多初學者，甚至包括一些有經驗的工程師，由于時間緊或者不耐煩亦或者過于自信，往往會草草了事，忽略了后期檢查，結果出現了一些很低級的BUG，比如線寬不夠、元件標號絲印壓在過孔上、插座靠得太近、信號出現環路等等，導致電氣問題或者工藝問題，嚴重的要重新打板，造成浪費。所以，當一塊PCB完成了布局布線之后，后期檢查是一個很重要的步驟。PCB的檢查包含很多細節要素，現在整理了認為較基本并且較容易出錯的要素，以便在后期檢查時重點關注。1.原件封裝2.布局3.布線。PCB設計、電路板開發、電路板加工、電源適配器銷售，就找，專業生產24小時出樣！天津四層pcb批發價
傳輸線的端接通常采用2種策略：使負載阻抗與傳輸線阻抗匹配，即并行端接；使源阻抗與傳輸線阻抗匹配，即串行端接。(1)并行端接并行端接主要是在盡量靠近負載端的位置接上拉或下拉阻抗，以實現終端的阻抗匹配，根據不同的應用環境，并行端接又可以分為如圖2所示的幾種類型。(2)串行端接串行端接是通過在盡量靠近源端的位置串行插入一個電阻到傳輸線中來實現，串行端接是匹配信號源的阻抗，所插入的串行電阻阻值加上驅動源的輸出阻抗應大于等于傳輸線阻抗。這種策略通過使源端反射系數為零，從而壓制從負載反射回來的信號(負載端輸入高阻，不吸收能量)再從源端反射回負載端。不同工藝器件的端接技術阻抗匹配與端接技術方案隨著互聯長度、電路中邏輯器件系列的不同，也會有所不同。只有針對具體情況，使用正確、適當的端接方法才能有效地減少信號反射。一般來說，對于一個CMOS工藝的驅動源，其輸出阻抗值較穩定且接近傳輸線的阻抗值，因此對于CMOS器件使用串行端接技術就會獲得較好的效果；而TTL工藝的驅動源在輸出邏輯高電平和低電平時其輸出阻抗有所不同。這時，使用并行戴維寧端接方案則是一個較好的策略；ECL器件一般都具有很低的輸出阻抗。河北pcb價格表格我們是PCB設計和生產線路板的廠家，提供專業pcb抄板！快速打樣，批量生產！
布線的幾何形狀、不正確的線端接、經過連接器的傳輸及電源平面不連續等因素的變化均會導致此類反射。同步切換噪聲(SSN)當PCB板上的眾多數字信號同步進行切換時(如CPU的數據總線、地址總線等)，由于電源線和地線上存在阻抗，會產生同步切換噪聲，在地線上還會出現地平面反彈噪聲(地彈)。SSN和地彈的強度也取決于集成電路的I/O特性、PCB板電源層和平面層的阻抗以及高速器件在PCB板上的布局和布線方式。串擾(Crosstalk)串擾是兩條信號線之間的耦合，信號線之間的互感和互容引起線上的噪聲。容性耦合引發耦合電流，而感性耦合引發耦合電壓。串擾噪聲源于信號線之間、信號系統和電源分布系統之間、過孔之間的電磁耦合。串繞有可能引起假時鐘，間歇性數據錯誤等，對鄰近信號的傳輸質量造成影響。實際上，我們并不需要完全消除串繞，只要將其控制在系統所能承受的范圍之內就達到目的。PCB板層的參數、信號線間距、驅動端和接收端的電氣特性、基線端接方式對串擾都有一定的影響。過沖(Overshoot)和下沖(Undershoot)過沖就是前列個峰值或谷值超過設定電壓，對于上升沿，是指比較高電壓，對于下降沿是指比較低電壓。下沖是指下一個谷值或峰值超過設定電壓。
即只規定差分線內部而不是不一樣的差分對中間規定長度匹配。在扇出地區能夠容許有5mil和10mil的線距。50mil內的走線能夠不用參照平面圖。長度匹配應挨近信號管腳，而且長度匹配將能根據小視角彎折設計方案。圖3PCI-E差分對長度匹配設計方案為了更好地**小化長度的不匹配，左彎折的總數應當盡量的和右彎折的總數相同。當一段環形線用于和此外一段走線來開展長度匹配，每段長彎曲的長度務必超過三倍圖形界限。環形線彎曲一部分和差分線的另一條線的**大間距務必低于一切正常差分線距的二倍。而且，當選用多種彎折走線到一個管腳開展長度匹配時非匹配一部分的長度應當不大于45mil。（6）PCI-E必須在發送端和協調器中間溝通交流藕合，而且耦合電容一般是緊貼發送端。差分對2個信號的溝通交流耦合電容務必有同樣的電容器值，同樣的封裝規格，而且部位對稱性。假如很有可能得話，傳送對差分線應當在高層走線。電容器值務必接近75nF到200nF中間，**好是100nF。強烈推薦應用0402的貼片式封裝，0603的封裝也是可接納的，可是不允許應用軟件封裝。差分對的2個信號線的電力電容器I/O走線理應對稱性的。盡量避免**分離出來匹配，差分對走線分離出來到管腳的的長度也應盡可能短。PCB設計、開發，看這里，服務貼心，有我無憂！
因此測試點占有線路板室內空間的難題，常常在設計方案端與生產制造端中間拔河賽，但是這一議案等之后還有機會再說談。測試點的外型一般是環形，由于探針也是環形，比較好生產制造，也較為非常容易讓鄰近探針靠得近一點，那樣才能夠提升針床的植針相對密度。1.應用針床來做電源電路測試會出現一些組織上的先天性上限定，例如：探針的較少直徑有一定極限，很小直徑的針非常容易斷裂損壞。2.針間間距也是有一定限定，由于每一根針必須從一個孔出去，并且每根針的后端開發都也要再電焊焊接一條扁平電纜，假如鄰近的孔很小，除開針與針中間會出現觸碰短路故障的難題，扁平電纜的干預也是一大難題。3.一些高零件的邊上沒法植針。假如探針間距高零件太近便會有撞擊高零件導致損害的風險性，此外由于零件較高，一般也要在測試夾具針床座上打孔繞開，也間接性導致沒法植針。電路板上愈來愈難容下的下全部零件的測試點。4.因為木板愈來愈小，測試點多少的存廢屢次被拿出來探討，如今早已擁有一些降低測試點的方式出現，如Nettest、TestJet、BoundaryScan、JTAG.。。等；也是有其他的測試方式要想替代本來的針床測試，如AOI、X-Ray，但現階段每一個測試好像都還沒法。，專業從事PCB設計，pcb線路板生產服務商，價格便宜，點此查看！廣西6層pcb交易價格
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