主營產品: 半導體測試系統|高性能PXIe板卡、機箱|BMS/CAF測試系統|GTFY可編程測軟件
隨著5G通信成為國內主流,6G技術的預研也早已開展。我們大膽預測6G技術對CAF測試的影響:雖然6G技術尚未商用,但預研階段已經對PCB技術...
加強質量檢測與監控是預防CAF現象的重要手段。在生產過程中,應對PCB板進行定期的質量檢測,包括外觀檢查、電性能測試等。同時,還應建立質量監...
CAF現象(導電陽極絲現象)是印刷電路板(PCB)中的一種潛在故障形式,其形成和發展受到多種環境因素的影響。以下是對CAF環境影響因素的詳細...
CAF(導電陽極絲)測試失敗的案例:某主板產品在出貨6個月后出現無法開機現象。電測發現某BGA下面兩個VIA孔及其相連電路出現電壓異常,不良...
杭州國磊半導體設備有限公司是一家專注于高性能半導體/電子測試系統的研發、制造、銷售和服務的高科技企業。公司由半導體測量技術專家團隊創立,具有豐富的半導體測試技術及產業化經驗。團隊掌握產品核心技術,擁有先進的電子、通信與軟件技術,涵蓋精密源表、高速通信、精密測量、光電技術、功率電路、嵌入式程序設計、計算機程序設計等眾多領域。